QCYQ-JS9000B 礦石光譜分析儀主要應用于采礦作業(yè)(勘探、開采、品位控制),工業(yè)礦物,生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學學術研究,考古等。線性動態(tài)范圍,可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行精度的過程控制和質量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和分辨率技術的新一代fast sdd檢測器,對輕、中、重元素和常見氧化物(Na2o、Mgo、Al2o3、Sio2、P2o5、So、k2o、Cao、Tio2、Cr2o、Mno、Fe2o、Zno和sro等)都可達到分析效果。
分析性能,使其可以輕松完成對以下礦種的測試: 鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 鋁土礦 其它礦類
產(chǎn)品特點
1.小型化、、高速度、易操作,高靈敏度、分析
2.可同時分析40種元素
3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率
5.記數(shù)數(shù)字多道電路設計,雙真空抽速機構,真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標配基本參數(shù)法軟件,多任務,多窗口操作
7.薄膜濾光片技術,有效提高輕元素檢出限
全新設計的XTEST分析軟件
軟件內核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正,即所有基質效應,增強和吸收。
譜顯示:峰定性,KLM標記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應,將光峰強度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的小二乘擬合進行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標準,多個標準或沒有標準的樣品。
鐵礦石光譜儀通常采用光柵光譜儀或干涉光譜儀的原理。樣品通過樣品室或探頭被照射光源照射,樣品會吸收特定波長的光,而其他波長的光則被反射或透射。這些吸收、反射或透射光會被光譜儀接收并分析。
礦石光譜儀是一種用于分析礦石成分和結構的儀器,以下是關于它的一些介紹:
工作原理
主要基于 X 射線熒光光譜分析技術。當 X 射線照射到礦石樣品時,會激發(fā)樣品中元素原子的內層電子,使其躍遷至高能級。當這些高能級電子回落到低能級時,會釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測器捕獲這些特征 X 射線并將其轉換成電信號,數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號,得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
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