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1、采用行業的速探測器技術——(SDD)分辨率低至125eV
優勢:探測面積大(面積達25m㎡)、單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好
對貴金屬的探測效率更高,探測信噪比更強,檢出限更低
2、采用行業的數字多道技術
優勢:有效提高輸出效率,實現計數率,采集有效計數率超過600KCPS
3、采用大功率X光管及的準直濾光系統
優勢:使貴金屬的激發效率更高
4、光閘系統
優勢:樣品更換無需關閉高壓,提高測試效率與測試精度
該技術的主要特征為:利用低能X光激發待測元素,對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果,并且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率:采用UHRD探測器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;采用自動穩譜裝置,了儀器工作的一致性:利用解譜技術使譜峰分解,使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度;采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。
性能特點
的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
x熒光光譜儀主要特點
1.檢測對象:液體/固體/粉末-固體樣品:點射配件-液體樣品:樣品池配件,適用于8mm瓶,NMR管和MP管
2.顯微鏡:可選顯微鏡配件
3.便攜式:-重量輕-遠程控制-藍牙無線數據傳輸(或USB)-電池可持續運作5小時-數據庫可無限擴充
4.全球小的光譜
5.120mW激發光源,功率可變
6.熒光成像可選
7.達到限衍射的成像和光譜
8.數據庫可無限擴展
技術指標高靈敏度探測器(分辨率達149Ev),精密的放大電路,
提高Cd、Pb元素的靈度。
檢出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
樣品形狀:任意大小,任意不規則形狀
樣品類型:塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
小樣品腔尺寸:300×300×100mm
大樣品腔尺寸:樣品尺寸不受限制
X射線管:靶材/Mo管電壓/5~50kV管電流/1~1000μA
照射直徑:2、5、8mm
探測器:Si(PIN)半導體高靈敏度探測器
濾光片:八種新型濾光片自動選擇
樣品定位:微動載物平臺(選配)
樣品觀察:130萬分辨率彩色CCD攝像機
微區分析:X光聚焦微區分析系統(選配)軟件
定量分析:理論Alpha
X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法,任何制樣過程和步驟有非常好的重復操作可能性,所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品經過同樣的制樣處理過程。X 射線熒光實際上又是一個表面分析方法,激發只發生在試樣的淺表面,注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外,樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化,樣品中是否存在不均勻的多孔狀態等。樣品制備過程由于經過多步驟操作,還防止樣品的損失和沾污。
引起樣品誤差的原因:
(1)樣品物理狀態不同,樣品的顆粒度、密度、光潔度不一樣;樣品的沾污、吸潮,液體樣品的受熱膨脹,揮發、起泡、結晶及沉淀等。
(2)樣品的組分分布不均勻 樣品組分的偏析、礦物效應等。
(3)樣品的組成不一致 引起吸收、增強效應的差異造成的誤差
(4)被測元素化學結合態的改變 樣品氧化,引起元素百分組成的改變;輕元素化學價態不同時,譜峰發生位移或峰形發生變化引起的誤差。
(5)制樣操作 在制樣過程中的稱量造成的誤差,稀釋比不一致,樣品熔融不完全,樣品粉碎混合不均勻,用于合成校準或基準試劑的純度不夠等。
3、樣品種類樣品狀態一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
(1)固體塊狀樣品 包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等,其中金屬材料占了很大的比例。
(2)粉末樣品 包括各種礦產品,水泥及其原材料,金屬冶煉的原材料和副產品如鐵礦石、煤、爐渣等;還有巖石土壤等。
(3)液體樣品 油類產品、水質樣品以及通過化學方法將固體轉換成的溶液等。
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