使用FCC大電流注入探頭采用大電流注入法與傳統的輻射敏感度測試相比，BCI法具有良好的重復性，且操作簡單實用，因此在商業、航空與軍事領域的EMC測試中得到了廣泛應用。
使用FCC大電流注入探頭通過BCI測試，可以有效地評估電子設備在電磁環境中的表現，確保其符合電磁兼容性標準，從而提高產品的可靠性和安全性。
?FCC大電流注入探頭及其校準夾具廣泛應用于電子設備的電磁兼容性（?EMC）?測試中，?特別是在需要評估設備對電磁干擾（?EMI）?的耐受性時。?這些測試有助于確保電子設備在復雜電磁環境中能夠正常工作，?不會因電磁干擾而失效。
SI-9010-三華科技（Sapphire）高壓差分探頭
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DEAN數字高壓表
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P501/P503set-Langer射頻耦合套組
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PA203-Langer前置放大器
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P331L-ESDset-Langer靜電放電耦合套組
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P331-2set-Langer靜電放電耦合套組
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Langer電快速瞬變脈沖群磁場源組-H5-ICset
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H4-ICset-Langer電快速瞬變脈沖群磁場源組
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產品名：Langer電脈沖群磁場源,IC測試系統,EMC測試