元素范圍從Na~U探測器SDD

X熒光光譜儀樣品處理注意事項
樣品制備：確保樣品表面平整、清潔，避免污染和氧化影響分析結果。
樣品尺寸：樣品尺寸需適合設備的測量窗口，過小或過大會影響分析精度。
樣品均一性：對于不均勻樣品（如粉末或顆粒），需充分混合或研磨以確保代表性。
避免污染：使用一次性手套和清潔工具，避免樣品受到污染。

其他注意事項
操作培訓：操作人員需經過培訓，熟悉設備操作和安全規程。
遵守法規：確保設備使用符合當地輻射安全和實驗室管理法規。
設備存放：設備存放時需關閉電源，避免長時間暴露在潮濕或高溫環境中。
通過嚴格遵守以上注意事項，可以確保XRF設備的安全、運行，并獲得準確可靠的分析結果。

X熒光分析儀主要有兩大類型：
波長色散型XRF（WDXRF）：通過衍射晶體將熒光X射線按波長分開，分辨率高，但儀器結構復雜。
能量色散型XRF（EDXRF）：通過探測器直接測量熒光X射線的能量，結構簡單，適合快速分析。
X射線熒光光譜儀在地質、冶金、環境、考古、材料科學等領域有廣泛應用。

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